温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明实施例提供一种测试盘结构和芯片测试装置，涉及COF封装测试领域。具体地，本发明通过对测试盘结构中的测试垫进行巧妙地绘制、布局，以在满足芯片封装测试需求的前提下，缩小测试垫的绘制空间，降低测试成本，同时还可有效保证芯片测试精度。...
该专利属于北京集创北方科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京集创北方科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。