温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型属于发射成像系统技术领域，并具体公开了一种用于辐射检测以及发射成像设备的检测器。所述检测器包括晶体层，所述晶体层包括多层依次连接的片层晶体结构，且至少一层所述片层晶体结构的外侧耦合有光传感器层，所述光传感器层包括多个呈阵列布置的光...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。