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一种极片的测厚方法技术
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文档序号:20142775
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本发明提供了一种可以更严格控制涂布厚度和均匀性的极片的测厚方法。所述极片的测厚方法沿极片的横向设置了多个测量区域,并得到各个区域的面密度值和所有测量区域的面密度均值,从而控制涂布机的涂布口做出相应的及时相应的调整,可以更严格控制涂布厚度和均...
该专利属于深圳市浩能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市浩能科技有限公司授权不得商用。
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