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本实用新型揭示了一种分布式光度计测试系统,包括:机架、光度探头和温控风控设备;机架设置于测试房间一侧墙边;光度探头包括第一光度探头,第一光度探头内设置有恒温控制装置,恒温控制装置用于控制第一光度探头内的整体温度;第一光度探头设置于机架上,在...该专利属于深圳天祥质量技术服务有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳天祥质量技术服务有限公司授权不得商用。
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本实用新型揭示了一种分布式光度计测试系统,包括:机架、光度探头和温控风控设备;机架设置于测试房间一侧墙边;光度探头包括第一光度探头,第一光度探头内设置有恒温控制装置,恒温控制装置用于控制第一光度探头内的整体温度;第一光度探头设置于机架上,在...