分布式光度计测试系统技术方案

本实用新型专利技术揭示了一种分布式光度计测试系统，包括：机架、光度探头和温控风控设备；机架设置于测试房间一侧墙边；光度探头包括第一光度探头，第一光度探头内设置有恒温控制装置，恒温控制装置用于控制第一光度探头内的整体温度；第一光度探头设置于机架上，在机架上与第一光度探头正对位置上设置有测试样托板，第一光度探头接收测试样托板上待测灯具的直射光，进行光度测试；温控风控设备设置于测试房间内且位于机架上方的天花，温控风控设备为水平侧出风口，出风口处设置有双层格网，格网为细密且紧凑的网孔结构，双层格网的每层格网能独立调节开口大小与出风的角度。通过设置有恒温控制装置和双层侧送风口，极大地提高了测试精度与测试效率。

【技术实现步骤摘要】
分布式光度计测试系统
本技术涉及光度计测试
，特别是涉及一种分布式光度计测试系统。
技术介绍
照明产品的尺寸大小、形状与重量存在差异，发出的光照也有不同的强度，且测试时，还要防止测量时产生的温度变化对测试数据的影响，以及测试环境的温度波动特别是风速是有明确的限制的。现有的分布式光度计测试系统在测试过程中，无法达到精确控温控风的要求，这在测试过程中会极大地影响测试数据的准确性。
技术实现思路
本技术的主要目的为提供一种分布式光度计测试系统，旨在解决现有的光度计测试系统在测试过程中温度与风速控制的技术问题。本技术提出一种分布式光度计测试系统，所述分布式光度计测试系统设置于密闭测试房间内，包括：机架、光度探头和温控风控设备；所述机架设置于所述测试房间一侧墙边；所述光度探头包括第一光度探头，所述第一光度探头内设置有恒温控制装置，所述恒温控制装置用于控制所述第一光度探头内的整体温度；所述第一光度探头设置于所述机架上，在所述机架上与所述第一光度探头正对位置上设置有测试样托板，所述第一光度探头接收所述测试样托板上待测灯具的直射光，进行光度测试；所述温控风控设备设置于测试房间内且位于所述机架上方的天花本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分布式光度计测试系统，所述分布式光度计测试系统设置于密闭测试房间内，其特征在于，包括：机架、光度探头和温控风控设备；所述机架设置于所述测试房间一侧墙边；所述光度探头包括第一光度探头，所述第一光度探头内设置有恒温控制装置，所述恒温控制装置用于控制所述第一光度探头内的整体温度；所述第一光度探头设置于所述机架上，在所述机架上与所述第一光度探头正对位置上设置有测试样托板，所述第一光度探头接收所述测试样托板上待测灯具的直射光，进行光度测试；所述温控风控设备设置于所述测试房间内且位于所述机架上方的天花板，所述温控风控设备为水平侧出风口，所述出风口处设置有双层格网，所述格网为细密且紧凑的网孔结构，所...

【技术特征摘要】
1.一种分布式光度计测试系统，所述分布式光度计测试系统设置于密闭测试房间内，其特征在于，包括：机架、光度探头和温控风控设备；所述机架设置于所述测试房间一侧墙边；所述光度探头包括第一光度探头，所述第一光度探头内设置有恒温控制装置，所述恒温控制装置用于控制所述第一光度探头内的整体温度；所述第一光度探头设置于所述机架上，在所述机架上与所述第一光度探头正对位置上设置有测试样托板，所述第一光度探头接收所述测试样托板上待测灯具的直射光，进行光度测试；所述温控风控设备设置于所述测试房间内且位于所述机架上方的天花板，所述温控风控设备为水平侧出风口，所述出风口处设置有双层格网，所述格网为细密且紧凑的网孔结构，所述双层格网的每层格网能独立调节开口大小与出风的角度。2.如权利要求1所述分布式光度计测试系统，其特征在于，所述机架底部还设置有能将所述测试样托板上待测灯具照射来的光呈预设角度反射的第一平面镜，所述测试房间另一侧墙边设置有将所述第一平面镜反射的光呈另一预设角度反射的第二平面镜，所述光度探头还包括第二光度探头，所述第二光度探头接收所述第二平面镜反射的光，进行光度测试。3.如权利要求1所述分布式...

【专利技术属性】
技术研发人员：林智，
申请(专利权)人：深圳天祥质量技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44