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本发明公开的后置分光瞳激光差动共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像及质谱成像测量技术领域。本发明将后置分光瞳激光差动共焦显微成像技术与质谱探测技术结合，利用质谱探测系统对样品微区带电分子、原子等进行质谱探测，利用激光质谱探测和后置分...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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