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本发明属于红外测量技术领域，具体提供一种基于红外热像仪的工件缺陷测量方法和系统。本发明旨在解决现有的红外热像仪在工业应用中测量精度差的问题。为此，本发明的测量方法主要包括以下步骤：使红外热像仪获取第一标定块的第一图像；根据所述第一图像获取红...该专利属于中国科学院自动化研究所;天津中科智能技术研究院有限公司;中科智信达（天津）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所;天津中科智能技术研究院有限公司;中科智信达（天津）科技有限公司授权不得商用。