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本发明公开了一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法，包括以下步骤：S1：通过X射线数字成像检测得到待检测工件的检测图像；S2：将待检测工件的检测图像与预定的检测图谱进行比对，得到待检测工件的近似缺陷尺寸；S3：计算检测图像的不清晰度，并计算得到...
该专利属于山东非金属材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过山东非金属材料研究所授权不得商用。

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