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本发明公开了一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法，包括双视觉检测单元、上位机、真空吸附平台及载物平台，所述真空吸附平台设置在载物平台上，所述双视觉检测单元设置在载物平台的上方；所述双视觉检测单元包括精密显微镜成像视觉系统及工业摄像...
该专利属于华南理工大学;广州精速电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学;广州精速电子科技有限公司授权不得商用。

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