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本发明提供了一种用于X射线检测器(5)的测量电路(30)。所述测量电路(30)是被配置为对测量数据进行采样以生成数据点，并在读出之前处理所述数据点，以通过组合在不同时间已经获得的两个或多个数据点来产生新的数据点，以致用于读出的数据点的数量小...
该专利属于棱镜传感器公司所有，仅供学习研究参考，未经过棱镜传感器公司授权不得商用。

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