The invention provides a measuring circuit (30) for an X-ray detector (5). The measurement circuit (30) is configured to sample the measured data to generate data points and process the data points before reading out, so as to generate new data points by combining two or more data points obtained at different times, so that the number of data points used for reading out is less than the number of original data points.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于X射线检测器的测量电路和相应的方法与X射线成像系统
本专利技术涉及一种X射线探测器的测量电路，一种在数据读出之前由X射线检测器的测量电路处理数据的方法和包括测量电路的X射线成像系统。
技术介绍
在医学应用和非破坏性测试中已经使用了诸如X射线成像等射线照相成像。通常，X射线成像系统包括X射线源和包括多个检测器的X射线检测器阵列，所述多个检测器包括一个或多个检测器元件(测量X射线强度/流量的独立装置)。X射线源发射X射线，它穿过待成像的对象或物体，然后由所述检测器阵列进行配准。由于一些材料比其它材料吸收更大部分的X射线，所以图像由对象或物体形成。通常使用的X射线成像系统的实施例是X射线计算机断层摄影(CT)系统，其可包括：X射线管，其产生X射线的扇形束或锥形束；以及X射线检测器的相对阵列，其测量穿过患者或物体透射的X射线的分数。X射线管和检测器阵列安装在围绕成像物体旋转的台架中。图1示出了CT几何结构的一个实施例的示意图。探测器阵列的尺寸和分段影响CT设备的成像能力。在台架的旋转轴方向(也就是，图1的z方向)上的多个检测器元件能使得实现多切片图像采集。在角方向(在...
【技术保护点】
1.一种用于X射线检测器的测量电路(30)，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为对测量数据进行采样以生成数据点，并在读出之前处理所述数据点，以通过组合在不同时间已经获得的两个或多个数据点来产生新的数据点，以致用于读出的数据点的数量小于原始数据点的数量。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.01.14 US 62/278,7361.一种用于X射线检测器的测量电路(30)，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为对测量数据进行采样以生成数据点，并在读出之前处理所述数据点，以通过组合在不同时间已经获得的两个或多个数据点来产生新的数据点，以致用于读出的数据点的数量小于原始数据点的数量。2.根据权利要求1所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为通过求和、线性组合或非线性组合的任何组合来处理数据点。3.根据权利要求1或2所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为处理来自X射线检测器的一个以上的检测器元件(5)。4.根据权利要求3所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为在信号经过低通滤波和下采样之前或之后，对来自两个或多个检测器元件(15)的数据进行求和。5.根据权利要求1至4之一所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)包括处理单元(32)，其被配置为将数据信号从较高的采样率抽取到较低的采样率进行数据读出，同时采用数字低通滤波器(34)减轻混叠。6.根据权利要求5所述的测量电路，其特征在于：所述处理单元(32)包括数字低通滤波器(34)，随后是下采样模块(36)，用于将数据信号从较高的采样率抽取到较低的采样率进行数据读出。7.根据权利要求1至6之一所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为处理从X射线产生的电荷以获得测量数据。8.根据权利要求7所述的测量电路，其特征在于：所述测量电路(30)是被配置为以光子计数和/或估计能量的形式产生测量数据。9.一种在数据读出之前通过X射线检测器的测量电路(30)处理数据的方法，其特征在于：新数据点是通过组合两个或多个数据点来产生，这些数据点已经通过所述测量电路在不同时间获得，以致所读出的数据点的...
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