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本发明公开一种能够进行静态参数测试的芯片IO端口电路，包括解码器单元、一组与输入端口一一对应的输入测试单元、一组与输出端口一一对应的输出测试单元、多级与门以及多级或门；在芯片的每个IO端口输出端上加入一个纯组合逻辑的输入测试单元,用来实现I...
该专利属于北方电子研究院安徽有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北方电子研究院安徽有限公司授权不得商用。

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