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本发明公开了一种保护加密芯片免受扫描攻击的可测试性设计结构。该安全的可测试性设计结构在常规扫描设计结构的基础上引入了密钥屏蔽逻辑、移位使能逻辑和安全扫描控制器。如果加密芯片在上电或复位后首先进入功能模式，在安全扫描控制器的控制下，密钥屏蔽逻...
该专利属于长沙理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长沙理工大学授权不得商用。

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