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本发明提供一种TFT阵列基板的检测方法及装置，检测方法包括：在待检测的TFT阵列基板上方设置包含多个金属片的量测头，使得量测头与TFT阵列基板之间形成电容效应，多个金属片阵列排布且位于同一平面上；输出栅极扫描信号至TFT阵列基板上的扫描线，...
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