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本发明公开了一种边界扫描测试链路的设计及测试方法，先将设计的边界扫描测试链路添加到被测电路板，再将被测电路板中引脚利用率低的数字芯片按照实现功能划分为不同的功能模块，并采用边界扫描测试链路连接方式连接，形成完整的边界扫描测试总链路，最后对边...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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