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本公开提供一种芯片和芯片测试系统。芯片具有解码模块和测试模式控制模块，在对输入信号进行解码后判断该输入信号为预激活信号则响应后续测试信号，否则不响应后续测试信号。本公开提供的芯片和芯片测试方法通过设置预激活信号可以在尽量节省I/O接口的条件...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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