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一种基于余弦波带片的径向剪切干涉仪制造技术
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文档序号:20042372
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本发明提出一种基于余弦波带片的径向剪切干涉仪,由一个余弦波带片和一个图像探测器组成,待测光束入射到余弦波带片,经过余弦波带片的衍射,形成两束光,一束是会聚光,另一束是发散光,两束光传播一段距离后,发生径向剪切干涉,形成干涉条纹,并被图像探测...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。
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