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本发明实施例提出一种物料扫描系统与物料剔除方法，涉及物料分选技术领域。该物料扫描系统包括扫描镜与探测器，扫描镜设置于一传送装置的上方，探测器用于通过扫描镜的反射作用探测传送装置上的物料的光谱，其中，扫描镜包括多边形本体、电机以及编码器，多边...
该专利属于合肥泰禾光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥泰禾光电科技股份有限公司授权不得商用。

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