专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
北京燕东微电子有限公司
>
一种用于SiC器件的离子注入方法技术
>技术资料下载
下载一种用于SiC器件的离子注入方法的技术资料
文档序号:20008222
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种用于SiC器件的离子注入方法。方法包括:在常温下以预定角度的掠射角进行离子注入,该方法还包括:在SiC材料表面形成用于离子注入的缓冲层;对缓冲层进行光刻形成离子注入的图案化层;以及利用图案化层进行离子注入。...
该专利属于北京燕东微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京燕东微电子有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。