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本发明公开了一种基于像素刻划的偏振相机的校正系统。该校正系统包括：偏振相机定标系统和偏振相机校正系统。所述偏振相机定标系统通过建立像素刻划的偏振相机的仪器矩阵定标数学模型后，采用最小二乘法试验进行定标，得到定标参数；所述偏振相机校正系统根据...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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