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本发明公开了一种高中低阶闪存的分类方法，包括以下步骤：首先使用自动判断测试闪存数据速率的方法，依照结果设定双数据速率或单数据速率；设定为单数据速率路线的，首先进行坏行测试，将闪存设定为单平面检测模式，接着对闪存进行擦除，进行读写比对分类测试...
该专利属于江苏华存电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏华存电子科技有限公司授权不得商用。

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