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一种高可靠性BZT无铅外延单晶储能薄膜及其制备方法技术
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下载一种高可靠性BZT无铅外延单晶储能薄膜及其制备方法的技术资料
文档序号:19954666
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本发明公开了一种高可靠性BZT无铅外延单晶储能薄膜及其制备方法;该制备方法在高温、高氧压环境下,利用超高真空射频磁控溅射技术,通过等离子体对靶材轰击,使靶材粒子沉积在基片上,并实现外延生长,得到BZT外延薄膜。因射频磁控溅射技术的特点,本身...
该专利属于西安交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安交通大学授权不得商用。
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