下载一种高可靠性BZT无铅外延单晶储能薄膜及其制备方法的技术资料

文档序号:19954666

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种高可靠性BZT无铅外延单晶储能薄膜及其制备方法;该制备方法在高温、高氧压环境下,利用超高真空射频磁控溅射技术,通过等离子体对靶材轰击,使靶材粒子沉积在基片上,并实现外延生长,得到BZT外延薄膜。因射频磁控溅射技术的特点,本身...
该专利属于西安交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安交通大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。