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本发明提出一种利用生长函数曲线表征漏点全生命周期内的发展状态的方法，生长函数曲线包括静默期、缓慢期、增长期、稳定期；生长函数曲线上的点包括技术不可探漏点、初始漏点、发展漏点、极值漏点、漏点拐点；漏点的全生命周期内的发展状态包括背景漏点、暗漏...
该专利属于清华大学;成都市兴蓉环境股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;成都市兴蓉环境股份有限公司授权不得商用。

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