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本发明公开了DDR模块的调试方法及系统，涉及器件调试技术领域。本发明通过每次在待调节电阻集合中选取一个电阻作为调试电阻；获取存储单元最大工作频率时相应的调试电阻的标准阻值，固定该调试电阻的标准阻值；再在待调节电阻集合的未调试电阻中选取一个电...
该专利属于晶晨半导体（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶晨半导体（深圳）有限公司授权不得商用。

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