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本发明提供一种基于独立成分自适应选择的Mura侦测方法。该方法包括如下步骤：将N张输入图像分别组合成一个混合矩阵；对混合矩阵进行ICA变换，获得N个独立成分；选定N张输入图像中的一张输入图像作为比较图像，分别计算每一个独立成分与所述比较图像...
该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

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