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高密度集成封装的射频微系统技术方案
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文档序号:19798251
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本实用新型公开了高密度集成封装的射频微系统,包括第一晶片层、第二晶片层、第三晶片层、第四晶片层,第一晶片层、第二晶片层、第三晶片层、第四晶片层,采用围坝结构做低温晶圆级键合堆叠在一起,并通过晶片内垂直通孔实现芯片间的上下互连,形成高密度集成...
该专利属于浙江铖昌科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江铖昌科技有限公司授权不得商用。
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