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本发明涉及一种通用半导体高速串行信号自动测试方法，被测芯片发出高速串行信号进入阻抗匹配单元，然后通过移相单元使高速串行信号的相位依次按照设定的固定的分辨率进行变换，每次偏移相位的大小由控制单元输出的移相控制信号及移相单元的分辨率决定，经过移...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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