下载一种可控硅检测装置以及检测方法的技术资料

文档序号:19688353

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本发明实施例公开了一种可控硅工作状态检测装置及方法,其中装置包括:驱动电路、端电压检测电路以及处理器,其中,驱动电路和检测电路都与处理器连接;驱动电路用于在处理器的控制下产生触发信号,控制双向可控硅的导通;端电压检测电路用于检测双向可控硅第...
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