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一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法技术
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文档序号:19638117
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本发明公开了一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法,其步骤如下:将FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入周期变换公式进行变换,获得不同尺度下的周期变换系数W(a),再将求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(...
该专利属于湘潭大学所有,仅供学习研究参考,未经过湘潭大学授权不得商用。
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