一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法技术

本发明专利技术公开了一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其步骤如下：将FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a)，再将求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(a)的平方进行积分，得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a)，然后再将求得的方差序列Var(a)求导，当导数为0时所对应的a，即为FDD‑LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。本发明专利技术分析了FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测的方法，该方法能够有效的对FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期进行检测，具有一定的社会效益。

【技术实现步骤摘要】
一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法
本专利技术涉及一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法。
技术介绍
基站电磁辐射是一个非线性变化序列，探究其变化周期对于基站电磁辐射的研究具有重要意义，基站电磁辐射作为一种非线性变化序列，其内部的变化周期可以通过周期变换公式对FDD-LTE基站电磁辐射的变化周期进行检测，但目前在已公开的文献中，没有考虑通过周期变换公式的方法，用于FDD-LTE基站电磁辐射变化周期的检测。针对现有技术中存在的不足，本专利提出将FDD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)通过周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a)，再将求得地FDD-LTE基站电磁辐射序列的周期变换系数W(a)的平方进行积分，得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a)，然后再将求得地方差序列Var(a)求导，当导数为0时所对应的a，即为FDD-LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。通过实验表明，本专利提出的方法能够有效的对FDD-LTE基站电磁辐射变化周期进行检测。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、取FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入如下周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a):

【技术特征摘要】
1.一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、取FDD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入如下周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a):其中：在上式中，f(t)为FDD-LTE基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，b为位移系数，取值为6，ω0为变换参数，取值为6...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨万春，吴涛，谭平安，卢泽斌，彭艳芬，
申请(专利权)人：湘潭大学，
类型：发明
国别省市：湖南,43