专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
上海工程技术大学
>
一种无损稳态导热率测量方法技术
>技术资料下载
下载一种无损稳态导热率测量方法的技术资料
文档序号:19633254
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种无损稳态导热率测量方法,包括:1、对于块状材料,利用加热源通过点加热的方式加热样品的表面,对于薄膜材料,利用区域加热方式加热样品和某种已知导热率的对比材料;2、当样品达到热稳态时,对于块状材料,通过测量样品加热表面任意一点的温...
该专利属于上海工程技术大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海工程技术大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。