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SOI基复合集成PHEMT和MOSFET的外延结构及制备方法技术
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文档序号:19556210
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本发明公开了SOI基复合集成PHEMT和MOSFET的外延结构及制备方法,该外延结构由复合集成在同一SOI衬底上的GaAs基PHEMT和MOSFET构成;SOI基PHEMT和MOSFET结构区被InGaP腐蚀隔离层隔开;制备方法为:在SOI...
该专利属于北京工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京工业大学授权不得商用。
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