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本发明公开了一种用于微量植物样品X荧光分析的薄膜制样方法。依次通过清洗、烘干、研磨、称量、抽滤，干燥，压样和封装过程来实现对毫克级微量植物的样品制备。利用本方法制成的薄膜样片操作简单、方便、快捷，表面平整密实，样品分布均匀，在实际测量过程中...
该专利属于南京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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