专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
中国原子能科学研究院
>
一种中子测量装置的屏蔽层厚度的设计方法制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种中子测量装置的屏蔽层厚度的设计方法的技术资料
文档序号:19487768
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明属于废包壳铀钚含量测量技术领域,具体涉及一种中子测量装置的屏蔽层厚度的设计方法,用于对中子测量装置的铅屏蔽层的厚度进行计算,包括如下步骤:步骤S1,在第一中子测量装置的测量腔中设置中子源;步骤S2,在第一中子测量装置的测量腔中分别放入...
该专利属于中国原子能科学研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。