下载一种中子测量装置的屏蔽层厚度的设计方法的技术资料

文档序号:19487768

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本发明属于废包壳铀钚含量测量技术领域,具体涉及一种中子测量装置的屏蔽层厚度的设计方法,用于对中子测量装置的铅屏蔽层的厚度进行计算,包括如下步骤:步骤S1,在第一中子测量装置的测量腔中设置中子源;步骤S2,在第一中子测量装置的测量腔中分别放入...
该专利属于中国原子能科学研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。

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