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本发明一种三维轮廓测量系统，该测量系统包括工作台、控制器和数据处理及分析系统，以及设置在工作台上的结构光测量系统、顶尖与转台系统和三坐标测量系统；结构光测量系统用于高速测量工件的复杂曲面；三坐标测量系统用于测量工件的复杂精细部分，保证该部分...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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