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本发明公开一种半导体元件及其制作方法。制作半导体元件的方法,首先提供一材料层,该材料层中具有一接触垫,然后形成一介电层于材料层及接触垫上,再形成一掺杂氧化层于介电层上,形成一氧化层于掺杂氧化层上。接着进行一第一蚀刻制作工艺去除部分氧化层、部...该专利属于联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。