温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种金属连线间形成空气隙的方法和金属连线结构,该方法包括以下步骤:提供金属层间介质层;在所述金属层间介质层上形成金属层;刻蚀所述金属层形成相互间隔的多条金属连线;刻蚀金属层间介质层形成沟槽,所述沟槽的深度小于所述金属层间介质层的厚...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种金属连线间形成空气隙的方法和金属连线结构,该方法包括以下步骤:提供金属层间介质层;在所述金属层间介质层上形成金属层;刻蚀所述金属层形成相互间隔的多条金属连线;刻蚀金属层间介质层形成沟槽,所述沟槽的深度小于所述金属层间介质层的厚...