下载半导体器件及其制造方法的技术资料

文档序号:19431182

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可提供一种半导体器件及其制造方法,所述半导体器件包括:衬底;绝缘层,位于所述衬底上且包括沟槽;至少一个通孔结构,穿透所述衬底且突出在所述沟槽的底表面上方;以及导电结构,在所述沟槽中环绕所述至少一个通孔结构。...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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