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本发明公开了一种基于等离子体的物体表征检测方法及装置，其利用等离子体与待测物体之间相互作用力，来呈现待测物体表面的物理特征，本发明通过用等离子体作为探针，当等离子体与物体表面接近时，会与物体表面发生相互作用，通过测量等离子与物体表面的相互作...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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