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本实用新型适用于IC生产技术领域，提供了一种盖印位置检查治具。该盖印位置检查治具成本低，使用寿命长，在IC大板整板盖印后，将盖印对位板覆在IC大板上，若盖印内容在对应的对位孔内，则说明盖印内容符合客户要求的规格，否则需调整盖印位置。由于是在...
该专利属于沛顿科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过沛顿科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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