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提供了检查系统、检查装置和检查方法。确定待检查装置的算术运算功能是否正常。待检查的MCU(13)从检查侧的电源IC(12)获取要用于算术问题的常数。MCU(13)顺序地选择多个算术问题，并根据选择的算术问题使用所获取的常数来执行算术运算。电...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。

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