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量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质技术
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文档序号:19317349
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提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质,能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时,校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理,光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数...
该专利属于株式会社岛津制作所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。
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