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本发明提供一种使用可有效率地削减消耗电流的新的方式的周期检测电路的半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法。所述半导体装置包括：边缘检测部(12)，检测经由电波接收的数据信号(Data)的上升及下降的任一者的边缘；计数部(14)，计算邻接的...
该专利属于拉碧斯半导体株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过拉碧斯半导体株式会社授权不得商用。

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