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本发明适用于工业检测技术领域，提供了一种基板检测方法及终端设备。该方法包括：获取包含集成电路模块的初始图像；根据预置模板，对所述初始图像中集成电路模块对应的模块区域进行定位；识别定位出的模块区域中的标记，并根据识别结果对所述模块区域对应的集...
该专利属于深圳安博电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳安博电子有限公司授权不得商用。

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