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本发明公开了一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读出比对方法及片上测试电路，该电路包括将CP测试Pass Flag寄存器读写逻辑、芯片上电将CP Pass Flag自动由NVM读入相关寄存器的逻辑、用于存储CP Pass Fl...
该专利属于北京中电华大电子设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中电华大电子设计有限责任公司授权不得商用。

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