一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读取比较方法及其电路技术

本发明专利技术公开了一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读出比对方法及片上测试电路，该电路包括将CP测试Pass Flag寄存器读写逻辑、芯片上电将CP Pass Flag自动由NVM读入相关寄存器的逻辑、用于存储CP Pass Flag的NVM存储器、NVM存储器读写逻辑、CP Pass Flag寄存器值与NVM读出数据对比逻辑、CP Pass Flag寄存器等。本发明专利技术所述方法提供一种CP Pass Flag自动化保存方法，并对芯片产品CP测试完成情况进行监控，有效地提高测试效率及控制芯片测试质量。

An integrated circuit CP test Pass Flag preservation, refresh, read comparison method and its circuit

The invention discloses a method for saving, refreshing, reading-out comparison and on-chip test circuit of integrated circuit CP test Pass Flag. The circuit includes read-write logic of CP test Pass Flag register, logic for automatically reading CP Pass Flag from NVM to related registers on chip, NVM memory for storing CP Pass Flag, NVM memory for storing CP Pass Flag, and NVM memory. Memory read-write logic, CP Pass Flag register value and NVM read-out data comparison logic, CP Pass Flag register, etc. The method provides a CP Pass Flag automatic storage method, and monitors the CP test completion of the chip product, effectively improving the test efficiency and controlling the chip test quality.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路CP测试PassFlag保存、刷新、读取比较方法及其电路
本专利技术属于集成电路芯片的测试设计领域，具体涉及一种芯片测试数据存取方法及相应的片上测试电路，通过对CPPassFlag的自动保存、刷新及读出比对，实现对芯片产品CP测试过程的追溯，有效地防止芯片漏筛情况发生，从而实现对芯片产品CP测试的质量把控。
技术介绍
圆片测试在半导体产品的制造过程中起着十分重要的作用，从芯片被加工生产出来，到交到最终客户手中，需要经过多道测试流程，层层筛选。在复杂的测试生产流程中，可能出现由于各种原因导致的漏筛情况。为解决此问题，业界通常会保存所有CP测试工程的CPPassFlag，有利于产品测试质量的把控和追溯。但是，由于NVM测试流程中具有高温长时间的Bake测试工程，因此Bake之前保存的CPPassFlag可能出现易丢失的情况，影响芯片正常功能，因此在Bake测试后需要对前道CP测试工程PassFlag进行读出比较及刷新操作，而老PassFlag刷新方法需要测试程序读出保存，严重影响测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的，在于提供一种CPPassFlag的保存及Bake测试后CP本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读出比对电路，其特征在于：芯片硬件由SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)、CP Pass Flag自动读出逻辑(102)、一个NVM存储器(105)、一个比较逻辑(106)、若干组用于装载CP Pass Flag信息的CP Pass Flag寄存器(104)、以及其它相关的组合逻辑构成，其中：SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)用于生成SFR和NVM的读写控制信号和地址信号；NVM存储器(105)接收NVM读写逻辑(103)产生的地址信号和读写控制信号，写入或读出相应地址存储的CP Pass Flag数据；CP ...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路CP测试PassFlag保存、刷新、读出比对电路，其特征在于：芯片硬件由SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)、CPPassFlag自动读出逻辑(102)、一个NVM存储器(105)、一个比较逻辑(106)、若干组用于装载CPPassFlag信息的CPPassFlag寄存器(104)、以及其它相关的组合逻辑构成，其中：SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)用于生成SFR和NVM的读写控制信号和地址信号；NVM存储器(105)接收NVM读写逻辑(103)产生的地址信号和读写控制信号，写入或读出相应地址存储的CPPassFlag数据；CPPassFlag数据寄存器(104)用于上电后保存由NVM读出的CPPassFlag信息，可以通过测试命令直接访问，读出或写入CPPassFlag数据；CPPassFlag自动读出逻辑(102)在上电复位后，自动将NVM存储的CPPassFlag数据读出并存储到CPPassFlag寄存器中；比较逻辑(106)用于将NVM存储器(103)输出数据和CPPassFlag寄存器(104)中数据进行比较。2.一种集成电路CP测试PassFlag保存、刷新、读出比对方法，基于权利要求1所述的电路，在Bake测试前对CPPassFlag进行保...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜河，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11