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本发明公开了一种接触式半导体材料测试头，其包括壳体和设于壳体内的探针组合；探针组合包括平板拉簧和探针，平板拉簧两侧对称，包括下部的弹簧端和上部的延伸端，探针固定于弹簧端的中心，延伸端为中空平板状；平板拉簧为多个，多个平板拉簧重叠在一起，通过...
该专利属于上海中船电气有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海中船电气有限公司授权不得商用。

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