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本实用新型提供一种芯片自动测试装置，包括测试区，测试区包括测试区输送部、驱动机构和用于测试芯片的测试座，测试区输送部中形成有测试轨道，驱动机构用于驱动测试区输送部在接收位置和测试位置之间运动，在接收位置，测试轨道用于接收芯片，在测试位置，测...
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