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半导体结构及其制造方法技术
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文档序号:19100180
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本公开提供了一种半导体结构及其制造方法,该半导体结构包含:一第一半导体元件;至少一传导件,位于该第一半导体元件上;一第二半导体元件,位于该第一半导体元件上;一封装件,位于该第一半导体元件上;以及一重布线层(RDL),位于该第二半导体元件与该...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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