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一种芯片测试装置、测试方法及测试板制造方法及图纸
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下载一种芯片测试装置、测试方法及测试板的技术资料
文档序号:19097384
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本发明提供了一种芯片测试装置、检测方法以及测试板,其中,包括,测试机,用以输出驱动测试信号;信号相位检测电路将芯片接收信号与标准信号进行比较,以形成比较结果;锁存器,信号相位检测电路将比较结果分别输出至测试机以及锁存器;当芯片接收信号与标准...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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